檢測銅箔膜厚儀測厚儀CMI95M

深圳市方源儀器有限公司提供檢測銅箔膜厚儀測厚儀CMI95M，測量銅箔厚度只需1秒鐘，專業運用于檢測銅箔的厚度。檢測銅箔膜厚儀測厚儀CMI95M因工廠調校，不需要任何標準片。它使用方便，只需將產品獨有的軟探針放到銅箔的表面就可以看到關于銅箔厚度的指示。

產品特性：

CE認證；

低電量警告；

耐久性強，使用方便 ；

一秒之內測量銅箔厚度 ；

工廠調校，不需要標準片 ；

現有的能測量全范圍銅箔厚度的經濟實用的便攜式測厚儀 ；

消除高廢料和返工造成的浪費——快速精確地識別特定銅箔厚度 ；

消除板材的磨損——新的CM95有一個的軟探針防止銅表面被擦傷或損毀； 

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