涂層測厚儀,X-Ray測厚儀,X射線熒光測厚儀

深圳市鼎極天電子是牛津儀器測厚儀一級代理商，專業銷售、服務牛津測厚儀已有10多年經驗,牛津儀器測厚儀由牛津儀器子公司美國CMI公司研發設計，該測厚儀堅固耐用，測試穩定性極高，是您測量鍍層的工具

涂層測厚儀 CMI243

手持式涂鍍層測厚儀 CMI243  介紹

牛津儀器CMI233測量黑色金屬底材上的金屬鍍層厚度，用于緊固件、螺栓、汽車部件、齒輪、管件等表面鍍層。

技術規格：

準 確 度：相對標準片±3% 精 確 度：0.3% 分 辨 率：0.1μm(0.01mils) 電 渦 流：遵循DIN50984，BS5411 Part 3，ISO2360，ISO21968草案，ASTM B499，ASTM E376 存 儲 量：26,500條存儲讀數 單       位：密耳（mil）、微米(μm )，一鍵自動轉換 統計顯示：讀數次數、平均值、標準差、值 接       口：RS-232串行輸出端口，波特率可調，用于下載至打印機或計算機 顯       示：3位數液晶顯示屏，字體高度12.7mm(1/2") 尺       寸：長×寬×高=149×79.4×30.2mm
                                     (5 7/8”×3 1/8”×1 3/16”) 重       量：0.26kg(9 oz) 含電池 電       池：9V堿性電池，65小時連續使用

CMI243配置包括：

CMI243主機 ECP-M探頭及拆除指南 校準用鐵上鍍鋅標準片組
選購部件
SMTP-1探頭(磁感應探頭)
RS232串行電纜

CMI243探針狀況：

CMI243的ECP-M探頭專為較難測量的金屬覆層設計，此單探頭可以測量鐵質底材上金屬覆層，例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量。

凸面半徑	凹面半徑	工作高度	測量面積直徑	底材厚度
1.2mm (0.045")	3.5mm (0.135")	100mm (4")	2.5mm (0.09")	0.3mm(12mils)

操作范圍

鐵上鍍層	鍍層厚度范圍	探頭
Zn	0-38μm(0-1.5mil)	ECP-M
Ni	0-75μm(0-3.0mil	ECP-M
Cd	0-38μm(0-1.5mil)	ECP-M
Cr	0-38μm(0-1.5mil)	ECP-M
Cu	0-10μm(0-0.4mil)	ECP-M
非磁性/Fe	0-1270μm(0-50mil)	SMP-1

 

售后服務

  儀器自購買后享有自購買日期計起為期一年的保固期。
我公司提供完善的膜厚儀售后服務，能在時間為客戶提供幫助，我們在膜厚儀行業積累了豐富的經驗，能為客戶提供有效、完善的測量方案和方法，牛津膜厚儀經過多年的不懈努力，已得到廣大客戶的認可和肯定。

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