F-P掃描干涉儀

北京飛凱曼科技公司提供高性價比FPS1000型F-P掃描干涉儀。F-P干涉儀是19世紀末法國物理學家發明的，是利用多光束干涉產生十分細銳的干涉條紋的重要光譜儀器。廣泛用于光譜線的精細結構和超精細結構的研究，以了解物質的內部結構。歷史上，科學家曾利用F-P干涉儀精確測定了里德伯常數；發現了蘭姆位移等。隨著科技的進步，其應用范圍不斷擴大，現在F-P干涉在光學測量方面對位移測量的精度已進入納米量級。

與F-P干涉儀不同的是，F-P掃描干涉儀的一個腔鏡是固定的，而另外一個腔鏡安裝在壓電陶瓷上，通過改變加在壓電陶瓷上的電壓，進而改變兩個腔鏡之間的距離，這樣達到頻率掃描測量和觀察的目的。如下圖所示，紅色曲線是腔鏡固定時的透過率曲線，藍色曲線當一個腔鏡改變0.4個波長后透過率曲線，而當加入的電壓是連續改變時，則實現曲線的連續掃描移動。

產品功能和特點：

1）    測試儀集成度高，免維護；

2）    適用于多種波長；

3）    多種精細常數可選；

4）    高性價比。

技術參數：

1）      干涉儀結構：可調自由光譜區，平行平板結構

2）      適用波長：473、532、632.8、680、850、980、1064、1310、1319nm等

3）      精細常數：50、100、200等

4）      掃描頻率：1-100Hz

5）      掃描波形：鋸齒波（0-200V）

6）      驅動電源尺寸：245×220×100mm

7）      驅動電源重量：3.2Kg

應用：

激光器的縱模觀察和測量

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