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公司基本資料信息
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測厚儀薄膜應(yīng)用范圍
適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
測厚儀薄膜主要特點
l 接觸式測量原理
l 德國進口測厚傳感器
l 觸摸屏操作
l 扁平化人機交互界面顯示
l 真彩色液晶顯示試驗數(shù)據(jù)、結(jié)果
l 手動、循環(huán)、預(yù)約定時多種測量模式
l 測試過程全自動完成
l 內(nèi)嵌值、值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析功能
l 本機內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)查詢功能
l 配置微型打印機,可自動打印單次、統(tǒng)計報告
l 配置標(biāo)準(zhǔn)通信接口
l 可支持DSM實驗室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng),實現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理(選購)
測厚儀薄膜技術(shù)指標(biāo)
測量范圍:0~2mm(標(biāo)配)
0~10mm(可選)
分 辨 率:0.1μm
測量速度:1~25次/min(可調(diào))
測 量 頭:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(標(biāo)配)
紙張:200mm2,50±1kPa(可選)
電 源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)
凈 重:38kg
測厚儀薄膜執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
測厚儀薄膜產(chǎn)品配置
標(biāo)準(zhǔn)配置:主機、薄膜測量頭、微型打印機、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
選 購 件:紙張測量頭、自動進樣裝置、配套軟件、通信電纜、標(biāo)準(zhǔn)量塊、DSM實驗室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)
注:產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更,恕不另行通知,SYSTESTER思克保留修改權(quán)與解釋權(quán)!
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