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公司基本資料信息
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高精度薄膜測厚儀應用范圍
適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
高精度薄膜測厚儀主要特點
l 接觸式測量原理
l 德國進口測厚傳感器
l 觸摸屏操作
l 扁平化人機交互界面顯示
l 真彩色液晶顯示試驗數據、結果
l 手動、循環、預約定時多種測量模式
l 測試過程全自動完成
l 內嵌值、值、平均值、標準差數據統計分析功能
l 本機內置歷史數據查詢功能
l 配置微型打印機,可自動打印單次、統計報告
l 配置標準通信接口
l 可支持DSM實驗室數據管理系統,實現數據統一管理(選購)
高精度薄膜測厚儀技術指標
測量范圍:0~2mm(標配)
0~10mm(可選)
分 辨 率:0.1μm
測量速度:1~25次/min(可調)
測 量 頭:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(標配)
紙張:200mm2,50±1kPa(可選)
電 源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)
凈 重:38kg
高精度薄膜測厚儀執行標準
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
高精度薄膜測厚儀產品配置
標準配置:主機、薄膜測量頭、微型打印機、標準量塊一件
選 購 件:紙張測量頭、自動進樣裝置、配套軟件、通信電纜、標準量塊、DSM實驗室數據管理系統
注:產品技術規格如有變更,恕不另行通知,SYSTESTER思克保留修改權與解釋權!
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