ITO薄膜測(cè)厚儀（labthink蘭光薄膜厚度測(cè)量?jī)x）

關(guān)鍵詞：紙張測(cè)厚儀，薄膜厚度儀，紙張厚度儀，紙張厚度測(cè)定儀，厚度測(cè)量?jī)x，薄膜厚度計(jì)，薄膜厚度測(cè)量?jī)x，薄膜厚度檢測(cè)儀，薄膜厚度測(cè)定儀，薄片測(cè)厚儀，硅片測(cè)厚儀，GB 6672，

ITO薄膜是一種n型半導(dǎo)體材料，具有高的導(dǎo)電率、高的可見(jiàn)光透過(guò)率、高的機(jī)械硬度和良好的化學(xué)穩(wěn)定性。它是液晶顯示器（LCD）、等離子顯示器（PDP）、電致發(fā)光顯示器（EL/OLED）、觸摸屏（TouchPanel）、太陽(yáng)能電池以及其他電子儀表的透明電極常用的薄膜材料。ITO薄膜是一種很薄的金屬薄膜，在透明導(dǎo)電薄膜方面得到普遍的應(yīng)用，具有廣闊的前景。但薄膜的厚度是否均勻直接關(guān)系到企業(yè)的生產(chǎn)成本控制，所以對(duì)ITO薄膜厚度的高精度測(cè)量，是企業(yè)必須重視的檢測(cè)項(xiàng)目之一。

Labthink蘭光研發(fā)生產(chǎn)的ITO薄膜測(cè)厚儀，采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。設(shè)備分辨率高達(dá)0.1微米，配置的自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)，使用戶可自行設(shè)置進(jìn)樣步距、測(cè)量點(diǎn)數(shù)和進(jìn)樣速度，大大提高了薄膜厚度測(cè)試效率。

ITO薄膜測(cè)厚儀技術(shù)特征：
測(cè)試范圍：0～2mm（常規(guī)）；0～6mm；12mm（可選）
分辨率：0.1μm
測(cè)量速度：10 次/min （可調(diào)）
測(cè)試壓力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）
接觸面積：50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）
      注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
進(jìn)樣步距：0～1000 mm
進(jìn)樣速度：0.1～99.9 mm/s

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