| ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。 |
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| ◆ 特點： |
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| 1 | 采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定 | | 2 | 低功耗 | | 3 | 采用單個電池供電，帶電池欠壓指示 | | 4 | 儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm | | 5 | 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜 | | 6 | 探頭帶抗靜電模塊 | |
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| ◆ 技術指標： |
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| 測量范圍 | 基本量程：方塊電阻10.0-199.9(Ω/口)
擴展量程：方塊電阻100-1999(Ω/口) | | 測量不確定度 | ≤5% | | 探針規格 | 探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ | | 恒流源 | 測量過程誤差：≤±0.8% | | 電源 | 9V疊層電池1節 | |
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