掃描俄歇微探針（SAM）

2013-05-30 653

核心提示：掃描俄歇微探針（SAM）；基本功能：　　（1）可進行樣品表面的微區選點分析（包括點分析，線分析和面分析）；　　（2）可進行深

掃描俄歇微探針（SAM）；基本功能：
　　（1）可進行樣品表面的微區選點分析（包括點分析，線分析和面分析）；
　　（2）可進行深度分析；
　　（3）化學價態研究
用途：
納米薄膜材料，微電子材料的表面和界面研究及摩擦化學研究。

標簽： 化學價態

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