Ｘ-ＲＡＹ　膜厚測量儀｜膜厚儀

Ｘ-ＲＡＹ　膜厚測量儀｜膜厚儀采用數學FP法，采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對焦時造成一起的損壞,帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在複雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現簡便測量的可能性,在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。


Ｘ-ＲＡＹ　膜厚測量儀｜膜厚儀樣品臺選擇：
采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
一：手動樣品臺
1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
3 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

二：自動樣品臺
1  程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
2  超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。

Ｘ-ＲＡＹ　膜厚測量儀｜膜厚儀應用領域：
1、分析電子部品電鍍層的厚度
2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析   
    3、各鍍層的成分比例分析。


 

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