X-RAY測厚儀膜厚測試儀

美國博曼X-RAY測厚儀采用了設計的發生器和DMC測量法光學編碼定位系統，膜厚測試儀高科技的FP法計算，能對樣品數據進行快速、精準的分析，基于當前的電子技術設計的電路板，儀器小巧，結構緊湊，靈敏度高，性價比。她完全突破了X射線熒光儀早期技術和相應理論基礎上多年形成的傳統觀念，以理念實現了樣品分析自動化、操作簡單化、檢測分析智能化、數據結果化、體積小型化、功能化的一次成功嘗試。

博曼X-RAY測厚儀可測元素范圍：13-92號元素
可測量厚度范圍：
原子序22-25，0.1-0.8μm≤
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射線管：油冷,超微細對焦
高壓：0-50KV(程控)
電腦系統：IBM相容,17”顯示器

博曼X-RAY測厚儀綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等X-RAY測厚儀),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質.

 美國博曼X-RAY測厚儀的性價比可謂為整個膜厚測試儀的翹楚，詳情請來電聯系
 
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